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半导体缺陷视觉检测系统 半导体检测设备采用四相机多工位检测
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半导体缺陷视觉检测系统 半导体检测设备采用四相机多工位检测

半导体检测设备采用四相机多工位检测;采用方法包括:方向检测、表面缺陷检测、多模版灰度匹配、非印字面检测、3D共线检测、编带工位检测、图像预处理

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    陕西 西安 雁塔区 沣泾大道西一路1号秦创原科创大厦D座12层
产品特性:功能丰富是否进口:否产地:西安
品牌:海克易邦型号:MVS2.0尺寸:20*30*10
类型:缺陷检测适用范围:尺寸测量、定位引导、识别重量:5kg
加工定制:否规格:win7 32/64位

半导体缺陷视觉检测系统 半导体检测设备采用四相机多工位检测详细介绍

  半导体检测设备采用四相机多工位检测;采用方法包括: 方向检测、表面缺陷检测、多模版灰度匹配、非印字面检测、3D共线检测、编带工位检测、图像预处理   
工位一
       方向工位检测,检测芯片管脚长宽、间距和共面度,同时对产品的方向进行检测,该工位检测结束发送伴随、OK/NG以及方向信号;

工位二
       镭射(印字)工位检测,主要检测产品壳体破损、镭射印字检测以及非印字区域污渍检测,检测结束发送伴随和OK/NG信号; 

工位三
       3D工位检测,该工位通过三次打光、采图,两次拼图组成芯片的3D投影图像然后对原始管脚和其投影分别检测引脚长宽、间距、跨距、共面度和共线度,检测结果发出伴随和OK/NG信号;

工位四
     编带工位检测,该工位可通过一次打光检测是否有印字,引脚长宽和共面度,同时该工位存在复检信号,检测结果不计入总结果,***发出伴随和OK/NG信号;  




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